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Xavier Carniel ; Jean-Louis Charron, Auteur ; Alain Trouvé, Auteur ; Walid Youssef, Auteur | Senlis (Oise) : Cetim | 1999Présente les systèmes de mesure et de leurs caractéristiques métrologiques, expose les techniques employées pour la mesure sans contact : mesure de déplacement et de dimension, de niveau, de profil et état de surface, de vitesse et de vib[...]
