| Titre : | Fiabilité, maintenance et risque |
| Auteurs : | David J. Smith, Auteur ; Daniel Gouadec, Auteur |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | Paris : Dunod, 2006 |
| Collection : | Technique et ingénierie |
| ISBN/ISSN/EAN : | 978-2-10-049780-5 |
| Format : | 352 p. / Couv. Ill. En coul / 24 cm. |
| Langues: | Français |
| Langues originales: | Français |
| Index. décimale : | 530 (physique) |
| Catégories : | |
| Mots-clés: | Fiabilité ; maintenabilité ; Conception technique |
| Résumé : | Cet ouvrage constitue une approche scientifique des notions techniques et industrielles de la fiabilité, de la maintenance et des risques des équipements et appareils industriels dans différents domaines d'activité : électronique, electromagnétique, chimique, nucléaire, instrumentation. Il est illustré par plusieurs exercices d'application et des exemples pratiques. Des développements mathématiques accompagnés de diagrammes, courbes et modélisations traitent les différents aspects : arbre de cause, arbre des défaillances, taux et coûts de défaillance, probabilités des défaillances, règles des redondances, méthode de quantification des défaillances, analyse des risques, simulations. |
Exemplaires (2)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| Phy. A/3732 | 530/1975/1 | Livre | BU Centrale Batna 1 | Deuxième étage : Architecture, sciences et technologies | Disponible |
| Phy. A/3733 | 530/1975/2 | Livre | BU Centrale Batna 1 | Deuxième étage : Architecture, sciences et technologies | Disponible |
