validée pour le prêt
| Titre : | Optical characterization of eptaxial semiconductor layers. With 271 figures. |
| Auteurs : | G. Bauer / W. Richter |
| Type de document : | texte imprimé |
| Editeur : | New York : Springer, 1996 |
| ISBN/ISSN/EAN : | 354059129x |
| Format : | 429p. / Index, Schémas / 24 cm |
| Index. décimale : | 537 (Électricité, électronique (physique de l'électricité et de l'électromagnétisme)) |
Exemplaires (2)
| Code-barres | Cote | Support | Localisation | Section | Disponibilité |
|---|---|---|---|---|---|
| 530-ETR-3756 | 537.622/BAU | $r non conforme -- | المكتبة الرئيسية لطلبة لكلية علوم المادة | indéterminé | Disponible Disponible |
| 530-ETR-001686 | 537.622/BAU | $r non conforme -- | مكتبة الأساتذة والدراسات العليا | indéterminé | Disponible Disponible |
